始于1999年

非晶硒平板探测器的基本结构

数字x射线摄影(Digital Radiography, DR)是20世纪90年代发展起来的 种新型x射线摄影技术,以其成像速度快、操作方便、成像分辨率高等显著 势成为数字x射线摄影技术的主导方向。得到了世界各地临床机构和影像 家的认可。DR的技术核心是平板探测器。平板探测器是 种精密而有价值的设备,它对成像质量起着决定性的作用。熟悉探测器的性能指标有助于我们提高成像质量,降低x射线辐射剂量。

非晶硒(a - se)是 种直接平板探测器结构,主要由集电 基体、硒层、介电层、 电 和保护层组成。集电 矩阵由以矩阵方式排列的薄膜晶体管(TFTS)组成。非晶硒半导体材料是通过真空蒸发在薄膜晶体管阵列的 部产生的,其厚度约为0.5 mm, 38 mm×45 mm平方。它对x射线非常敏感,具有很高的图像分辨率。

上电 连接高压电源。当发生x射线入射时,由于高压电源在非晶硒表面形成的电场,它们只能沿电场方向垂直穿过 缘层、x射线半导体和电子封层到达非晶硒,不会发生横向偏差和光散射。非晶硒阵列直接将x射线转换成电信号并存储在存储电容器中。脉冲控制门电路使薄膜晶体管接通,将存储在存储电容中的电荷送至充电放大器输出,完成光电信号的转换,再经数字转换器转换成数字图像输入计算机。计算机恢复显示器上的图像,医生直接观察显示器进行诊断。

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平板探测器