SID（Source-to-Image Distance）：指的是 X 射线源到图像接收器（如探测器或胶片）之间的距离。在 X 射线成像中，SID 是一个重要的参数，它会影响到图像的放大率、清晰度和剂量分布等。较大的 SID 通常可以减少图像的放大失真，提高图像的清晰度，但可能需要更高的辐射剂量来获得足够的图像信号；较小的 SID 则可能会增加图像的放大率，导致图像失真，但辐射剂量可能相对较低。
FID（Focal Spot-to-Image Distance）：是焦点（X 射线源）到成像平面的距离。它与 SID 类似，但更强调焦点这个概念，在实际应用中，FID 的变化同样会对 X 射线成像的质量产生影响，例如影响半影大小，进而影响图像的锐利度等。在一些情况下，FID 可能与 SID 被视为相近的概念，但 FID 更侧重于描述焦点与成像平面之间的几何关系对成像的影响。
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