、需要解决X射线检测介质的问题
•荧光粉——灵敏度增加（明亮灼伤）
•光电导体——灵敏度降低
二、需要解决a-Si:H阵列的问题
•像素的电荷读数不完整
•a-Si:H开关元件中的电荷保持
•a-Si:H光电二 管中的电荷保持
•高压保护方案导致的电荷再分配
可能涉及复杂且耗时的操作：
•施加的偏置电压的大小和 性
•施加的复位光场的强度和持续时间
•注入信号偏移电荷
•确定阵列是否适合实时成像。
您如果有其他的疑问可以来电与我们讨论 下，我们愿意为您解答，联系电话18953679166！
、需要解决X射线检测介质的问题
•荧光粉——灵敏度增加（明亮灼伤）
•光电导体——灵敏度降低
二、需要解决a-Si:H阵列的问题
•像素的电荷读数不完整
•a-Si:H开关元件中的电荷保持
•a-Si:H光电二 管中的电荷保持
•高压保护方案导致的电荷再分配
可能涉及复杂且耗时的操作：
•施加的偏置电压的大小和 性
•施加的复位光场的强度和持续时间
•注入信号偏移电荷
•确定阵列是否适合实时成像。
您如果有其他的疑问可以来电与我们讨论 下，我们愿意为您解答，联系电话18953679166！